Inspección y Re-trabajo de Empaque de Semiconductores

Los empaques de semiconductores y los módulos electrónicos contienen bolas de soldadura, almohadillas térmicas, marcos de conexión y conexiones internas que no siempre pueden ser examinadas desde el exterior.
Los sistemas de rayos X DEZ inspeccionan las estructuras internas del empaque y las conexiones de soldadura a nivel de placa sin cortar la muestra. Los contadores de componentes de rayos X miden las piezas dentro del empaque de cinta y carrete, mientras que las estaciones de re-trabajo BGA retiran y reemplazan empaques fallidos en PCBs y módulos ensamblados.

Qué Equipos Cubre DEZ

Inspección de Empaque de Semiconductores

Examine las condiciones estructurales internas y los estados de conexión dentro de empaques de CI, dispositivos de potencia y módulos electrónicos compatibles.

Inspección de BGA y Empaques de Terminación Inferior

Inspeccione las bolas de soldadura y la distribución de soldadura debajo de BGA, QFN, LGA, CSP y otros empaques después del ensamblaje de la placa o módulo.

Inspección de Vacíos en Almohadillas Térmicas

Mida las áreas de vacío y compare la distribución de soldadura debajo de empaques de potencia compatibles y almohadillas térmicas expuestas.

Conteo de Componentes de Cinta y Carrete

Cuente componentes electrónicos dentro de carretes sellados sin desenrollar la cinta portadora.

Reemplazo de Empaque en Ensamblajes de PCB

Retire, alinee y reemplace componentes de montaje superficial compatibles como BGA, QFN, CSP, QFP, POP y otros.

Inspección Post-Re-trabajo

Inspeccione nuevamente los componentes reemplazados para verificar la posición de las bolas de soldadura, puentes, vacíos y distribución de soldadura.

Equipos Recomendados para Inspección y Re-trabajo

Preguntas Frecuentes sobre Inspección de Semiconductores

¿Qué Máquina Inspecciona Empaques de Semiconductores?

Elija el DEZ-X7600 para paquetes, módulos y uniones de soldadura a nivel de placa compatibles. La calidad final de la imagen depende del tamaño del paquete, la densidad, la superposición del material y la ubicación de los defectos.

Elija el DEZ-XC1000. Soporta bobinas de 7 a 17 pulgadas y componentes tan pequeños como 01005.

El DEZ-X7600 proporciona el cálculo del área de vacío para uniones de soldadura y almohadillas térmicas compatibles.

Elija el DEZ-R820 para componentes desde 2 × 2 mm hasta 80 × 80 mm y PCBs de hasta 415 × 370 mm.

Elija el DEZ-R880A para componentes de hasta 120 × 120 mm y conjuntos de hasta 710 × 490 mm.

Proporcione las dimensiones del paquete o módulo, materiales, estructura interna esperada, defecto sospechado, nivel de detalle requerido para la inspección y cualquier resultado de prueba de rayos X o eléctricos existente.

Solicitar una solución de inspección de semiconductores

Envíenos las dimensiones del paquete, módulo o PCBA, peso de la muestra, estructura interna, defecto sospechado y detalle de imagen requerido.

Para el conteo de componentes, proporcione el diámetro de la bobina, dimensiones del componente, estructura de cinta portadora y rango de cantidad esperado.

DEZ recomendará el DEZ-X7600, DEZ-XC1000, una estación de retrabajo BGA o una fuente de rayos X de microfoco según la tarea real.

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