BGAおよび隠れたはんだ接合部のためのPCBA X線検査システム | DEZ-X7600

DEZ-X7600 PCBA X線検査システムは、高解像度のX線画像を使用して、電子部品の下に隠れたはんだ接合部および内部構造を検査します。

これにより、品質エンジニアはBGA、QFN、LGA、CSP、半導体およびその他の底面接続コンポーネントをPCBアセンブリを切断、開封または損傷することなく検査できるようになります。

130 kVの閉じたマイクロフォーカスX線源、5 μmの焦点スポット、最大150倍の幾何学的拡大率が、内部はんだ分布、コンポーネントの位置および接続状態をリアルタイムで明らかにします。

製品が工場を出る前に隠れた欠陥を見つけることにより、DEZ-X7600は製造業者が繰り返しの失敗を減らし、不良アセンブリが次のプロセスに進むのを防ぎ、はんだ付けの問題の本当の原因を特定するのを助けます。

検査能力 特定に役立つ問題
隠れたはんだ接合部イメージング BGA、QFN、LGA、およびCSPパッケージの下の欠陥
高解像度の拡大 小さなはんだボール、細ピッチ接合部および内部構造
斜め角度の検査 垂直画像で分離が難しい重なり合った接合部
リアルタイムの画像表示 検査中の迅速な欠陥確認
ボイドエリア計算 はんだ接合部または熱パッド内の過剰なボイド
距離とサイズの測定 はんだボールの直径、間隔および欠陥の寸法
大きな検査プラットフォーム 510 × 450 mmまでのPCBおよびアセンブリ
12 kgのプラットフォーム容量 大きなまたは重い電子アセンブリ
画像および結果の保存 品質記録、失敗分析およびプロセス比較
非破壊検査 アセンブリを再作業またはさらなるテストのために保持します。
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商品コード: PCBA-X-Ray-Inspection-System-X7600 カテゴリー:
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コンポーネントの下に隠れた欠陥を見つける

AOIおよび目視検査は、コンポーネントの位置、極性および目に見えるはんだフィレットを検査できますが、BGA、QFNまたはその他の底面接続パッケージの下にあるはんだ接合部を直接見ることはできません。

したがって、基板は外見上は正常に見えるが、次のような欠陥を含んでいる可能性があります: はんだブリッジ、はんだボールの欠損、不十分なはんだ、過剰なはんだ、はんだボイド、コンポーネントのミスアラインメント、不均一なはんだボールの形状、開放接続の指標、異物、内部パッケージ損傷。

DEZ-X7600は、アセンブリを通してX線を送信し、材料密度の違いを可視画像に変換します。はんだは、周囲のPCBおよびコンポーネント材料よりも多くのX線エネルギーを吸収するため、隠れたはんだ接合部が検査画面に明確に表示されます。

これにより、品質エンジニアは電気的症状や外観に依存するのではなく、直接的な視覚的証拠を得ることができます。

PCBA-X-Ray-Inspection-System-Display-Details

PCBA X線検査の適用

BGAおよびCSP検査

隠れたはんだボール配列を検査し、ブリッジング、欠損接合、異常なボール形状、空隙、コンポーネントの移動を確認します。

QFNおよびLGA検査

中央の熱パッドはんだの覆い、空隙、隠れた周辺接続を評価します。

SMTプロセスの検証

初期のPCBを検査し、ステンシルデザイン、ペースト量、配置またはリフロー設定の変更後のはんだ付け結果を比較します。

PCBA故障分析

機能または電気テストの失敗後に疑わしいコンポーネントを調べ、PCBからすぐに取り外すことなく確認します。

再作業品質検証

コンポーネントを取り外した後、BGAまたはQFN接合部を検査し、再作業結果の品質を確認します。

半導体および電子部品検査

内部パッケージ構造、結合領域、コネクタ、および互換性のある電子部品における他の密度の違いを観察します。

入荷コンポーネントの検証

内部状態やパッケージの完全性を評価する必要がある高価または疑わしいコンポーネントを生産に入る前に検査します。
PCBA-X-Ray-Inspection-System-Detecting

PCBAを損傷なく検査

従来の破壊的分析には、PCBの切断、コンポーネントの取り外し、または断面の準備が必要な場合があります。

これらの方法は詳細な証拠を提供できますが、検査された基板は直接生産に戻すことができなくなります。

X線部品カウンターはテープを巻き戻す必要がありません。オペレーターは完全なリールを機械の中に置き、単一のスキャンからカウントを受け取ります。

DEZ-X7600は、完全な組立体を非破壊検査で実施します。PCBAはそのまま保持され、非破壊X線検査は高コストのPCBA、低ボリューム製品、工学サンプル、および高価な半導体を含む組立体に特に価値があります。

PCBA X線検査技術仕様

パラメータ仕様
ブランド浜松、Japan
タイプクローズドマイクロフォーカスX線管
最大電圧130 kV
電流10–300 μA
焦点サイズ5 μm
最大出力39 W
幾何学的拡大率最大150×

フラットパネル検出器

パラメータ仕様
ブランドiRAY
検出器の種類アモルファスシリコンフラットパネル検出器
画像領域130 × 130 mm
ピクセルマトリクス1536 × 1536
ピクセルサイズ85 μm
解像度5.8 lp/mm
フレームレート20 fps
視野角多角度検査対応

検査プラットフォーム

パラメータ仕様
積載エリア520 × 520 mm
最大検査エリア510 × 450 mm
最大サンプル重量12 kg
X軸移動510 mm
Y軸移動450 mm
検出器Z軸移動300 mm
X線源Z軸移動300 mm
制御方法ジョイスティック、マウス、キーボード
ナビゲーション高精細カメラ

機械仕様

パラメータ仕様
機械の寸法1,400 × 1,350 × 1,750 mm
機械重量約1,650 kg
電源AC 220 V, 50 Hz
最大出力2.0 kW
産業用コンピュータAdvantech産業用コンピュータ
プロセッサIntel i5-7700
メモリ8 GB RAM
ストレージ1 TB HDD
モニタ24インチFHDディスプレイ
放射線漏れ0.5 μSv/h以下

X線検査とAOI

検査要件X線検査AOI
目に見える部品位置はいはい
目に見えるはんだフィレットはいはい
BGAの下の接合部はいいいえ
QFNサーマルパッドの空隙はいいいえ
内部はんだ分布はいいいえ
部品ラベルと極性制限付きはい
表面汚染制限付きはい
内部パッケージ構造はいいいえ
主な強度隠れた内部欠陥目に見える表面欠陥

これらのブランドと提携していることを誇りに思います

私たちはこれまでに

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検査および再作業プロセスを続ける

Automatic-Pick-and-Place
隠れたBGA欠陥を見つけた後、制御された加熱と位置決めを使用して影響を受けた部品を取り外すか、交換します。
X線検査&BGA再加工ソリューション
X線検査が必要な時期、発見できる欠陥、そしてAOIおよび電気テストとどのように補完し合うかを学びます。

適した製造環境

自動車エレクトロニクス-SMT-1
自動車電子機器
自動車用制御、センサー、照明および電源モジュールには、隠れたまたは高電流のはんだ接続が含まれていることがよくあります。X線検査は、アセンブリがさらなるテストや最終モジュール製造に入る前に、内部のはんだ欠陥を特定するのに役立ちます。
医療機器製造
医療電子機器
医療電子機器のメーカーは、保存されたX線画像を使用して、コントロールされた検査、故障解析および品質文書のサポートを行うことができます。
通信SMT 1
通信
通信、サーバーおよびネットワーキングボードは、BGAs、QFNsおよび視覚検査では完全に検査できない大規模な多層アセンブリを頻繁に使用します。
半導体パッケージング
半導体パッケージング
互換性のある半導体パッケージおよびモジュールは、内部の構造的異常や接続状態を調べることができます。
コンシューマーエレクトロニクスPCBA
コンシューマーエレクトロニクス
このシステムは、密に組み立てられた消費者電子機器のPCBAに対する初回検査、プロセス検証および故障解析をサポートできます。
EMS&契約製造
EMSおよび契約製造
EMS工場は多くのPCB設計およびパッケージタイプを処理します。オフラインX線システムは、初回検証、隠れた接合部の品質管理および異なる生産ラインでの故障解析のための柔軟な検査ステーションを提供します。

PCBA X-Ray検査に関するよくある質問

DEZ-X7600は何を検査できますか?

それはPCBA、PCBアセンブリ、BGAおよびQFNのはんだ接合、半導体パッケージ、コネクタその他の互換性のある電子部品を検査できます。

BGAのはんだ接合はパッケージの完全に下に位置しており、AOIまたは視覚検査で直接検査することはできません。

それは、空洞、はんだブリッジ、はんだの欠落、不十分なはんだ、不規則な接合、パッケージのずれおよびその他の内部異常を特定するのに役立ちます。

いいえ。これは非破壊検査法なので、検査後もアセンブリは無傷のまま残ります。

はい。ソフトウェアには、空洞面積やその他の可視機能を評価するための画像計算および測定機能が含まれています。

最大の検査範囲は510 × 450 mmです。

検査プラットフォームは最大12 kgのサンプルをサポートしています。

はい。大きなプラットフォームと可動検査範囲により、大きなアセンブリの異なるエリアを検査用に位置させることができます。

はい。多角度の観察により、重なり合った構造を分離し、さまざまな方向から隠れたジョイントを検査することができます。

システムは最大150倍の幾何学的倍率を提供します。

DEZ-X7600は検査員が操作するオフライン検査システムです。自動的な100%生産ライン検査には、インラインAXIシステムを評価する必要があります。

いいえ。AOIは可視部品や表面欠陥の検査に優れていますが、X線は隠れた内部構造の検査に使用されます。この二つのシステムは異なる検査機能を持っています。

はい。BGAの取り外し、再ハンドリング、または交換の後にハンダ接点を検査して、再作業の結果を確認できます。

はい。顧客はPCBアセンブリや電子部品を提供し、サンプル撮影および欠陥分析テストを受けることができます。

あなたのSMT機器の要件をお送りください

DEZにお問い合わせ PCBAクリーニングマシン, 選択はんだ付け機, ステンシルクリーニング機, X線検査, BGAリワーク, リフローオーブン および SMTハンドリング機器.

作業部品の寸法、生産問題、および必要なスループットを送信すると、無料のアプリケーションレビュー、機器の推奨、プロジェクト見積もりを受け取れます。条件を満たすプロジェクトには無料サンプルテストを提供しています。

営業日の1時間以内に機器の専門家が連絡します。

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