Что такое ионное загрязнение PCB — и чем оно отличается от видимых остатков?

Как ионное загрязнение отличается от видимых остатков на PCB, что вызывает электрические риски, как тестируется чистота и какой процесс очистки подходит.

Ионное загрязнение — это растворимый заряженный материал, остающийся на PCB или PCBA после производства, пайки, обработки или очистки. Это может включать ионы хлора, брома, натрия, калия, сульфата, нитрата и органических кислот.

Эти загрязнители часто присутствуют в концентрациях, которые невозможно увидеть. Когда влага растворяет их, они могут увеличивать проводимость поверхности и способствовать утечкам, коррозии или электрохимической миграции под электрическим напряжением.

Видимый остаток описывает то, что можно увидеть, а не как оно ведет себя химически. Флюсовые пленки, белые отложения, пыль, волокна, отпечатки пальцев, масла и шарики припоев являются видимыми остатками, но они не являются автоматически ионными или неионными.

Ионное загрязнение против видимого остатка

СравнениеИонное загрязнениеВидимый остаток
ОпределениеРастворимые заряженные частицы на сборкеЗагрязнение, обнаруженное визуально или под увеличением
ВидимостьЧасто невидимоВидимо напрямую, с помощью камеры или под микроскопом
ПримерыИоны хлора, брома, натрия, калия и органических кислотФлюсовые пленки, белые отложения, волокна, масла, пыль и шарики припоев
Электрическое поведениеМожет увеличить проводимость при растворении во влагеЗависит от состава; может быть проводящим, изолирующим или содержать ионы
Главная проблемаУтечка, коррозия и электрохимическая миграцияПроблемы с внешним видом, инспекцией, контактом, покрытием, связыванием или относящиеся к частицам проблемы
ПроверкаROSE, ионная хроматография, SIR или другой определенный тестВизуальная или оптическая инспекция

Видимый остаток не следует описывать как безвредный только потому, что он кажется неметаллическим. Флюсовые пленки и отпечатки пальцев могут содержать ионные материалы, в то время как металлические частицы и шарики припоев могут создавать электрические риски, не измеряясь как ионное загрязнение.

Как ионное загрязнение становится электрическим риском

Ионное загрязнение не автоматически приводит к короткому замыканию. Риск возникает через взаимодействие загрязнения, влаги, электрического смещения, расстояния между проводниками и времени.

Когда влага образует тонкую пленку на сборке, растворимые ионы попадают в жидкость и увеличивают ее проводимость. Это может уменьшить сопротивление изоляции поверхности и создать утечку между проводниками.

При продолжающемся электрическом смещении металл может растворяться на одном проводнике, мигрировать через электролит и оседать в другом месте. Эта электрохимическая миграция может образовывать дендриты и в конечном итоге создать нежелательный проводящий путь.

Dendrite-growth-caused-by-flux-residue

Загрязненная сборка может пройти проверку в сухом заводском режиме, но вести себя иначе после воздействия влажности, конденсации или температурных колебаний.

Откуда возникает ионное загрязнение

Вероятный источник зависит от времени появления загрязнения.

Этап процессаВозможный источникЧто проверить
Изготовление голой платыНацарапывание, покрытие, отделка поверхности или недостаточное промываниеДанные о процессе поставщика и чистота входящих плат
Пайка в печиАктиваторы и продукты реакции пасты для пайкиТип пасты, нанесенный объем и термический профиль
Волновая пайка или селективная пайкаЖидкий флюс, чрезмерное применение или недостаточный предварительный прогревКоличество флюса, форма распыления, предварительный прогрев и параметры пайки
Ручная пайка или доработкаМестно примененный флюс и повторное нагреваниеПродукт флюса, метод нанесения и число циклов доработки
Очистка и промываниеЗагрязненный раствор для мытья, остатки чистящего средства или плохое качество промывной водыКонцентрация химических веществ, состояние ванной и качество деионизированной воды
ОбработкаСледы пальцев и потПерчатки, метод обращения и открытые тестируемые области
Сушка и хранениеЗастрявшая влага или загрязнение окружающей средыРезультат сушки, упаковка и условия хранения

Как обнаруживается ионное загрязнение?

Метод испытания должен быть выбран в зависимости от вопроса, на который необходимо ответить.

МетодЧто он вам говоритОсновное ограничение
Визуальный осмотрВидны ли остатки, частицы, водяные следы или коррозияНе может доказать ионную чистоту
ROSEОбщий уровень излечимого ионного загрязненияНе идентифицирует отдельные ионы или их расположение
Ионная хроматографияКакие ионные виды присутствуют и их измеренные количестваРезультат зависит от области извлечения и процедуры
SIRКак ведет себя представительный процесс при определенной влажности, температуре и электрическом смещенииНе идентифицирует конкретный загрязнитель
Локальное извлечениеСодержит ли конкретный компонент или область процесса концентрацию загрязненияНе представляет собой полную сборку, если отбор образцов не запланирован правильно
Как обнаруживается ионное загрязнение

Каков приемлемый уровень ионного загрязнения?

Нет универсального значения, которое доказывало бы, что каждая сборка надежна.

Действительное требование по принятию должно определять метод испытания, условия извлечения, расчетную площадь поверхности, единицы, план отбора образцов и пределы допуска/отказа.

Историческое значение 1,56 мкг эквивалента NaCl/см² не должно автоматически использоваться в качестве универсального предела квалификации. IPC убрала его как основной ориентир для квалификации производственного процесса, когда был внедрен IPC J-STD-001H.

Применимый предел должен исходить из технической документации клиента, требования к продукту или квалифицированного производственного процесса.

Как следует выбирать процесс очистки?

Первое решение заключается в том, касается ли требование видимого остатка, ионного загрязнения или обоих.

Видимый остаток на доступной поверхности

Очистка щеткой или с помощью сухого льда может быть подходящей, когда основное требование — удалить доступные следы флюса, шарики припоя или остатки локальных переделок.

Это Автоматическая односторонняя машина для чистки PCBA – DEZ-C758 и Автоматическая машина для очистки щеток PCBA – DEZ-C760 очистить одну доступную поверхность с нижней стороны с припоя.

DEZ машины для очистки сухим льдом обеспечить безводную очистку для совместимого экранированного флюса и остатков переделки. Доступны стационарные DEZ-C7310, встроенные DEZ-C7320 и портативные DEZ-C1650.

Эти процессы могут удалить остатки, содержащие ионные материалы, но видимое удаление не доказывает, что достигнут предел ионной чистоты.

Ионное загрязнение, требующее полной мойки и промывания

Когда полная сборка требует химической мойки, промывания деионизированной водой и контролируемой сушки, используйте валидированный водный процесс.

Основная последовательность:

Совместимая химическая мойка → Промывание деионизированной водой → Контролируемая сушка → Тест на чистоту

Очищающая химия выполняет основное действие мойки. Дионизированная вода удаляет растворенные загрязнения и остатки чистящего средства после мойки.

Дионизированная вода не должна описываться как основная стадия очистки от флюса.

Оборудование DEZ для контроля ионного загрязнения

Требование к производствуРекомендуемое оборудованиеСоответствующие данные по процессу
Очистка партий высокой смешиваемости в режиме офлайнОфлайн машина для очистки PCBA – DEZ-C743Обмывка с распылением, промывание деионизированным водой и сушка горячим воздухом; корзина двойного слоя 610 × 560 × 100 мм; максимальная загрузка партии 10 кг; температура стирки 25–75°C
Непрерывная inline очистка с использованием водыМашина для очистки PCBA встраиваемым образом – DEZ-C1360Химическая стирка, промывание деионизированной водой и сушка в двух зонах горячим воздухом; поддерживает продукты шириной от 50 до 500 мм; скорость конвейера до 1000 мм/мин
Специальная подача деионизированной воды для промыванияСистема деионизированной воды – DEZ-CS300Производит деионизированную воду для совместимых процессов промывания; необходимый объем и хранилище должны соответствовать фактическому спросу машины
Доступные видимые остатки припоя со стороны пайкиDEZ-C758 или DEZ-C760Очистка кистью без полной химической стирки и промывания деионизированной водой
Доступные местные остатки без жидкой очисткиDEZ-C7310, DEZ-C7320 или DEZ-C1650Очистка сухим льдом; ионная чистота должна проверяться отдельно

Ни название машины, ни метод очистки не подтверждают соответствие. Завершенный процесс должен быть протестирован с использованием указанного метода чистоты.

Смотрите применение для очистки остатков флюса PCBA и ионного загрязнения для полного выбора маршрута.

Как проверить результат очистки

Начните с представительных сборок с фактическим производственным загрязнением. Запишите флюс, процесс пайки, местоположение остатков, химический состав очистки и текущий результат теста.

Очистите образцы с использованием контролируемых параметров, затем повторите тот же осмотр и ионный тест. Это устанавливает, удаляет ли процесс целевое загрязнение, вместо того чтобы лишь улучшать внешний вид.

Для водной очистки подтвердите химию стирки, качество деионизированной воды, эффективность промывания и сушку. Для очистки кистью или сухим льдом подтвердите доступ к загрязненной области и тестируйте ионную чистоту отдельно при необходимости.

Как только результат станет приемлемым, определите настройки процесса, границы обслуживания ванны, частоту выборки и условия, требующие повторной квалификации.

Часто задаваемые вопросы

Означает ли видимый остаток флюса, что ионное загрязнение слишком высоко?

Не обязательно. Внешний вид не может определить тип или количество ионного загрязнения. Протестируйте сборку на соответствие заданным требованиям.

Доказывает ли прохождение ROSE надежность?

Нет. ROSE является методом контроля процесса. Квалификация продукта также может потребовать ионную хроматографию, SIR, электрическое тестирование или оценку окружающей среды.

Может ли деионизированная вода сама по себе удалить все ионные загрязнения?

Нет. Некоторое загрязнение оказывается в остатках флюса или других остатках и сначала требует совместимого чистящего средства. Затем деионизированная вода используется для промывания растворённого загрязнения и оставшегося чистящего средства.

Может ли очистка сухим льдом удалить ионные загрязнения?

Сухой лёд может удалить доступные остатки, содержащие ионные материалы, но не обеспечивает полного процесса растворения и промывания деионизированной водой. Протестируйте очищенную сборку, когда указана ионная чистота.

Оцените ваш процесс очистки

Отправьте представителю DEZ образцы, фотографии остатков, информацию о флюсах, данные о процессе очистки и требуемый метод тестирования.

DEZ может оценить, требуется ли в приложении доступная щеточная очистка, местная очистка сухим льдом, офлайн-промывка водным раствором или непрерывная промывка водным раствором.

Просмотр Оборудование для очистки ПП от DEZ или всё оборудование DEZ SMT.

Перетащите файлы, Выбрать файлы для загрузки, или Снять на камеру